“Previsione dell’affidabilità nell’elettronica” presentata dagli esperti al GEN3 Leave a comment

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In questa coinvolgente serie di micro webinar in 11 parti, gli esperti di argomento Graham Naisbitt e Chris Hunt esaminano la storia delle influenze della migrazione elettrochimica (ECM) e l’uso in evoluzione del test di resistenza all’isolamento della superficie (SIR) che è stato sviluppato negli ultimi 25 anni da GEN3 e dalla sua associazione con il British National Physical Laboratory. GEN3 e NPL hanno creato lo standard che è ora ampiamente utilizzato in tutto il mondo dall’inizio del millennio.

Il terzo episodio, “Esempi ECM”, può essere visualizzato in meno di cinque minuti. I relatori condividono informazioni sui tipi di ECM, inclusi esempi di Bosch, HP e NP. I relatori discutono anche dei requisiti ECM e altro ancora.

Progettato per completare il libro di GEN3, La guida dell’assemblatore di circuiti stampati alla…convalida del processo, questa intera serie di webinar può essere visualizzata in circa un’ora e copre una gamma completa di argomenti che circondano i quattro innovativi standard di test pubblicati tra il 2019 e il 2021 che hanno posto le basi per l’evidenza oggettiva e la sua influenza diffusa in tutto il mondo dell’elettronica, sia nell’alta arena di affidabilità di applicazioni spaziali, mediche, automobilistiche o industriali generali.

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